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熒光光譜儀的貴金屬及珠寶分析功能
發(fā)布日期：2020-02-18
X-MET8000 是理想的珠寶及貴金屬分析儀。手持式 X 射線熒光分析儀可對大小形狀的貴金屬物品進(jìn)行無損的“對準(zhǔn)即測”多元素分析，被廣泛用于珠寶及貴金屬測試。
X-MET8000 手持式貴金屬分析儀優(yōu)勢：
完全無損檢測：樣品測試后無任何印記，亦不會(huì)有任何材料和價(jià)值損耗
快速而準(zhǔn)確：較大的分析量，以利于高產(chǎn)量和高利潤率
超低的檢出限：可準(zhǔn)確分析雜質(zhì)和有毒元素（如 Pb 和 Cd），以確定可能存在的危害元素
簡便攜帶：X-MET8000外形小巧輕便（含電池1.5公斤），所有附件均可裝入手提箱，運(yùn)輸輕松方便
堅(jiān)固耐用：IP54防護(hù)等級(jí)，具有超高的防塵和防水性能；超薄窗口（用于X-MET8000 Smart）或可選保護(hù)罩（用于Optimum 和Expert），可防止探頭和X射線管在測試小部件和尖銳物體時(shí)受損
